低温探针台包含开环低温探针台系列、闭环低温探针台系列及磁场低温探针台系列，能够为半导体芯片的电学参数测试提供高低温真空测试环境。

室温探针台包含紧凑型手动探针台系列和标准手动探针台系列，是一款高品质的探针台能够对2寸、4寸、6寸、8寸晶圆片进行大量非破坏性的、标准的电学实验，外接不同的测试设备，可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量。

室温磁场探针台包含室温永磁铁探针台系列和室温电磁铁探针台系列，是一款专门针对室温可变磁场、垂直磁场电测环境开发的探针台，能够对2寸、4寸、6寸、8寸晶圆片进行重复性的、标准的电学实验。

室温真空探针台是一款专门针对室温真空电测环境开发的探针台，能够对2寸、4寸晶圆片进行重复非破坏性的、标准的电学实验，外接不同的测试设备可以完成对器件的电学特性测量、参数测量、DC测量和RF测量。

全自动/半自动探针台对6"、8"的晶圆级各类器件的性能测试，可针对不同晶圆测试，可配备相应的仪器仪表，进行I-V、C-V、光信号等特性分析，设备功能丰富，可匹配多种测试应用环境，可升级大功率晶圆测试、射频测试、全自动测试并可加载温控系统，满足客户在高低温环境下的各种晶圆器件性能测试需求。